Modelling of AFM-SECM tips: influence of defects and geometry on limiting current for approach curves and images

Kelly Leonhardt, Guy Denuault, Bernhard Gollas

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 3 Okt. 2010
Veranstaltung6th Workshop on Scanning Electrochemical Microscopy - Frejus, Frankreich
Dauer: 3 Okt. 20107 Okt. 2010

Konferenz

Konferenz6th Workshop on Scanning Electrochemical Microscopy
Land/GebietFrankreich
OrtFrejus
Zeitraum3/10/107/10/10

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Theoretical

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