Microfabrication of the combined AFM-SECM sensors using Focused Ion Beam

Amra Avdic, Alois Lugstein, Ming Wu, Bernhard Gollas

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 28 Jun 2010
Veranstaltung5th FIB Workshop 2010 - Wien, Österreich
Dauer: 28 Jun 201029 Jun 2010

Konferenz

Konferenz5th FIB Workshop 2010
LandÖsterreich
OrtWien
Zeitraum28/06/1029/06/10

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Dieses zitieren

Avdic, A., Lugstein, A., Wu, M., & Gollas, B. (2010). Microfabrication of the combined AFM-SECM sensors using Focused Ion Beam. 5th FIB Workshop 2010, Wien, Österreich.