Metrology & methodology of system level ESD testing

D. Lin*, D. Pommerenke, J. Barth, L. G. Henry, H. Hyatt, M. Hopkins, G. Senko, D. Smith

*Korrespondierende/r Autor/in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftKonferenzartikel

Abstract

Parameters which cause the poor reproducibility of system level ESD tests have been identified: simulator calibration methodology and insufficient simulator specifications. Results of round robin tests we performed at three laboratories are reported. A better calibration methodology for ESD current measurement and additional simulator specifications for output current and radiated fields are proposed.

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)29-39
Seitenumfang11
FachzeitschriftElectrical Overstress Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Dez 1998
Extern publiziertJa
VeranstaltungProceedings of the 1998 20th Annual International EOS/ESD Symposium - Reno, NV, USA
Dauer: 6 Okt 19988 Okt 1998

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  • !!Condensed Matter Physics

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