Message from the General Chair

Franz Wotawa*

*Korrespondierende/r Autor/in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandVorwort/Nachwort

Originalspracheenglisch
Titel2020 IEEE International Conference On Artificial Intelligence Testing (AITest)
Seitenviii
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - Aug 2020
Veranstaltung 2020 IEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing - Keble College, Oxford University, Virtuell, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 3 Aug 20206 Aug 2020

Konferenz

Konferenz 2020 IEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing
KurztitelAITest 2020
LandGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtVirtuell
Zeitraum3/08/206/08/20

ASJC Scopus subject areas

  • Artificial intelligence
  • !!Computer Science Applications
  • !!Safety, Risk, Reliability and Quality
  • !!Modelling and Simulation

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