Mapping surface plasmons in the nanometer regime

Franz Schmidt, Harald Ditlbacher, Andreas Hohenau, Ulrich Hohenester, Ferdinand Hofer, Joachim R. Krenn

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelFinal program and abstracts
Herausgeber (Verlag).
Seitenxx-xx
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungEnhanced Data Generated by Electrons - Sainte Maxime, Frankreich
Dauer: 26 Mai 201331 Mai 2013

Konferenz

KonferenzEnhanced Data Generated by Electrons
Land/GebietFrankreich
OrtSainte Maxime
Zeitraum26/05/1331/05/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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