Low TID effects on MOS transistors

Varvara Bezhenova, Alicja Malgorzata Michalowska-Forsyth, Walter Pflanzl

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - Sep 2018
VeranstaltungConference on Radiation Effects on Components and Systems - Gothenburg, Schweden
Dauer: 16 Sep 201821 Sep 2018
http://www.radecs2018.org/

Konferenz

KonferenzConference on Radiation Effects on Components and Systems
KurztitelRADECS
LandSchweden
OrtGothenburg
Zeitraum16/09/1821/09/18
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • !!Electrical and Electronic Engineering
  • !!Radiation

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Verwandte Tätigkeiten

  • 1 Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)
  • 1 Posterpräsentation

Conference on Radiation Effects on Components and Systems

Varvara Bezhenova (Teilnehmer/-in), Alicja Malgorzata Michalowska-Forsyth (Teilnehmer/-in)
16 Sep 201821 Sep 2018

Aktivität: Teilnahme an / Organisation vonKonferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)

Low TID effects on MOS transistors

Varvara Bezhenova (Redner/in), Alicja Malgorzata Michalowska-Forsyth (Redner/in), Walter Pflanzl (Beitragende/r)
19 Sep 2018

Aktivität: Vortrag oder PräsentationPosterpräsentationScience to science

Dieses zitieren

Bezhenova, V., Michalowska-Forsyth, A. M., & Pflanzl, W. (2018). Low TID effects on MOS transistors. Postersitzung präsentiert bei Conference on Radiation Effects on Components and Systems , Gothenburg, Schweden.