Low-loss EELS with monochromated electrons

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelInternational Conference on Electron Microscopy
Herausgeber (Verlag).
Seiten1-1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungInternational Conference on Electron Microscopy: EMSI 2008 - Zakopane, Polen
Dauer: 8 Juni 200811 Juni 2008

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Electron Microscopy
Land/GebietPolen
OrtZakopane
Zeitraum8/06/0811/06/08

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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