Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Sep 2008
VeranstaltungEMC 2008: European Microscopy Conference 2008 - Aachen, Deutschland
Dauer: 1 Sep 20085 Sep 2008

Konferenz

KonferenzEMC 2008
LandDeutschland
OrtAachen
Zeitraum1/09/085/09/08

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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