Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome electrons

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelEuropean Microscopy Congress
ErscheinungsortBerlin
Herausgeber (Verlag)Springer
Seiten399-400
BandVolume1
ISBN (Print)978-3-540-85154-7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungEuropean Microscopy Congress - Aachen, Deutschland
Dauer: 1 Sep. 20085 Sep. 2008

Publikationsreihe

NameInstrumentation and Methods
Herausgeber (Verlag)Springer

Konferenz

KonferenzEuropean Microscopy Congress
Land/GebietDeutschland
OrtAachen
Zeitraum1/09/085/09/08

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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