Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome electrons

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelEuropean Microscopy Congress
ErscheinungsortBerlin
Herausgeber (Verlag)Springer
Seiten399-400
BandVolume1
ISBN (Print)978-3-540-85154-7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungEuropean Microscopy Congress - Aachen, Deutschland
Dauer: 1 Sep 20085 Sep 2008

Publikationsreihe

NameInstrumentation and Methods
Herausgeber (Verlag)Springer

Konferenz

KonferenzEuropean Microscopy Congress
LandDeutschland
OrtAachen
Zeitraum1/09/085/09/08

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Kothleitner, G., Schaffer, B., & Dienstleder, M. (2008). Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome electrons. in European Microscopy Congress (Band Volume1, S. 399-400). (Instrumentation and Methods). Berlin: Springer.