Jitter: Basics, relevance and measurement methods

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftKonferenzartikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Aufsatznummer4652242
FachzeitschriftIEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Jahrgang2008-January
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Jan 2008
Extern publiziertJa
Veranstaltung2008 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2008 - Detroit, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 18 Aug 200822 Aug 2008

ASJC Scopus subject areas

  • Physik der kondensierten Materie
  • Elektrotechnik und Elektronik

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