Investigation of the near fields of sputtered Au thinfilms used for SERS, using the AFM and DDA

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2016
VeranstaltungThe 16th European Microscopy Congress - Lyon Convention Center, Lyon, Frankreich
Dauer: 28 Aug 20162 Sep 2016
Konferenznummer: 16
http://www.emc2016.fr/en/

Konferenz

KonferenzThe 16th European Microscopy Congress
KurztitelEMC 2016
LandFrankreich
OrtLyon
Zeitraum28/08/162/09/16
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application

Dieses zitieren

Fitzek, H. M., Sattelkow, J., & Pölt, P. (2016). Investigation of the near fields of sputtered Au thinfilms used for SERS, using the AFM and DDA. Postersitzung präsentiert bei The 16th European Microscopy Congress, Lyon, Frankreich.