Investigation of Strained Silicon by Raman-Microscopy

Brigitte Patsch, Ernst Lankmayr

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005
VeranstaltungInternational Symposium on Instrumental Analysis - Graz, Österreich
Dauer: 25 Sep 200528 Sep 2005

Konferenz

KonferenzInternational Symposium on Instrumental Analysis
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum25/09/0528/09/05

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Dies zitieren

Patsch, B., & Lankmayr, E. (2005). Investigation of Strained Silicon by Raman-Microscopy. Postersitzung präsentiert bei International Symposium on Instrumental Analysis, Graz, Österreich.

Investigation of Strained Silicon by Raman-Microscopy. / Patsch, Brigitte; Lankmayr, Ernst.

2005. Postersitzung präsentiert bei International Symposium on Instrumental Analysis, Graz, Österreich.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Patsch, B & Lankmayr, E 2005, 'Investigation of Strained Silicon by Raman-Microscopy', Graz, Österreich, 25/09/05 - 28/09/05, .
Patsch B, Lankmayr E. Investigation of Strained Silicon by Raman-Microscopy. 2005. Postersitzung präsentiert bei International Symposium on Instrumental Analysis, Graz, Österreich.
Patsch, Brigitte ; Lankmayr, Ernst. / Investigation of Strained Silicon by Raman-Microscopy. Postersitzung präsentiert bei International Symposium on Instrumental Analysis, Graz, Österreich.
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TY - CONF

T1 - Investigation of Strained Silicon by Raman-Microscopy

AU - Patsch, Brigitte

AU - Lankmayr, Ernst

PY - 2005

Y1 - 2005

M3 - Poster

ER -