Interactive Visual Exploration of defect prediction in industrial setting through explainable models based on SHAP values

Milot Gashi, Belgin Mutlu, Josef Suschnigg, Patrick Ofner, Stefan Pichler, Tobias Schreck

Publikation: KonferenzbeitragPosterBegutachtung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2020
VeranstaltungIEEE VIS 2020 - Virtuell, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 25 Okt 202030 Okt 2020
http://ieeevis.org/year/2020/welcome

Konferenz

KonferenzIEEE VIS 2020
KurztitelVIS 2020
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtVirtuell
Zeitraum25/10/2030/10/20
Internetadresse

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

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