Intensity artefacts due to RF eddy and displacement currents and their dependence on setting of the flip angle.

Rudolf Stollberger, Paul Wach, Ch. Leussler, E. Justich

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelProc. SMRM (Works in Progress), 8th Meeting
Herausgeber (Verlag).
Seiten1165-1165
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1989

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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Stollberger, R., Wach, P., Leussler, C., & Justich, E. (1989). Intensity artefacts due to RF eddy and displacement currents and their dependence on setting of the flip angle. in Proc. SMRM (Works in Progress), 8th Meeting (S. 1165-1165). ..