Intensity artefacts due to RF eddy and displacement currents and their dependence on setting of the flip angle

Rudolf Stollberger, Paul Wach, C. Leussler, E. Justich

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1989
Veranstaltung8th Annual Scientific Meeting and Exhibition Society of Magnetic Resonance in Medicine - Amsterdam
Dauer: 12 Aug. 198918 Aug. 1989

Konferenz

Konferenz8th Annual Scientific Meeting and Exhibition Society of Magnetic Resonance in Medicine
OrtAmsterdam
Zeitraum12/08/8918/08/89

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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