In-situ X-ray characterisation of voltage induced changes in organic semiconductors

Alfred Neuhold, Jiri Novak, Heinz-Georg Flesch, Souren Grigorian, Linda Grodd, Ulrich Pietsch, Roland Resel

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalsprachedeutsch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungISOTEC Meeting 2010 - Reinischkogel
Dauer: 25 Nov 201026 Nov 2010

Konferenz

KonferenzISOTEC Meeting 2010
OrtReinischkogel
Zeitraum25/11/1026/11/10

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Application
  • Experimental

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