In-situ X-ray characterisation of voltage induced changes in organic semiconductors

Alfred Neuhold, Jiri Novak, Heinz-Georg Flesch, Souren Grigorian, Linda Grodd, Ulrich Pietsch, Roland Resel

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
Veranstaltung10th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP) - Warwick (UK)
Dauer: 20 Sep 201023 Sep 2010

Konferenz

Konferenz10th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP)
OrtWarwick (UK)
Zeitraum20/09/1023/09/10

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

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