In situ testing of soft materials in the Environmental Scanning Electron Microscope

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelInternational Conference on Electron Microscopy and Annual Meeting of the Electron Microscope Society
Herausgeber (Verlag).
Seiten24-25
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
VeranstaltungInternational Conference on Electron Microscopy and Annual Meeting of the Electron Microscope Society - New Delhi, Indien
Dauer: 9 Jul 201411 Jul 2014

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Electron Microscopy and Annual Meeting of the Electron Microscope Society
LandIndien
OrtNew Delhi
Zeitraum9/07/1411/07/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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