In-situ study of nanocystalline Pt-KOH (1M) interface using x-ray diffraction method

R.N. Viswanath, J. Weißmüller, Roland Würschum, H. Gleiter

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

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