In-situ study of nanocystalline Pt-KOH (1M) interface using x-ray diffraction method

R.N. Viswanath, J. Weißmüller, Roland Würschum, H. Gleiter

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Originalsprache	englisch
Titel	Proceedings of the Internat. Conf. on Advances in Materials and Materials Processing
Herausgeber (Verlag)	Tata McGraw-Hill Publ.
Seiten	897-901
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2002

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In-situ study of nanocystalline Pt-KOH (1M) interface using x-ray diffraction method. / Viswanath, R.N.; Weißmüller, J.; Würschum, Roland et al.
Proceedings of the Internat. Conf. on Advances in Materials and Materials Processing. Tata McGraw-Hill Publ., 2002. S. 897-901.

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