In-situ study of nanocystalline Pt-KOH (1M) interface using x-ray diffraction method

R.N. Viswanath, J. Weißmüller, Roland Würschum, H. Gleiter

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

    Originalspracheenglisch
    TitelProceedings of the Internat. Conf. on Advances in Materials and Materials Processing
    Herausgeber (Verlag)Tata McGraw-Hill Publ.
    Seiten897-901
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2002

    Dieses zitieren