In-Situ Correlative AFM/SEM/FIB analysis of FIB-treated samples

P. Frank, S. Hummel, Jürgen Sattelkow, Robert Winkler, S. Andany, G. Fantner, Harald Plank, C. Schwalb

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
Titel3rd Workshop of the European Focused Ion Beam Network
Seiten34-35
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019
VeranstaltungEuropean FIB Network - Dreden, Dresden, Deutschland
Dauer: 12 Juni 201914 Juni 2019
http://www.eu-f-n.org

Konferenz

KonferenzEuropean FIB Network
KurztitelEUFN 2019
Land/GebietDeutschland
OrtDresden
Zeitraum12/06/1914/06/19
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • Werkstoffwissenschaften (insg.)

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  • Advanced Materials Science

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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