In-Situ Correlative AFM/SEM/FIB analysis of FIB-treated samples

P. Frank, S. Hummel, Jürgen Sattelkow, Robert Winkler, S. Andany, G. Fantner, Harald Plank, C. Schwalb

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
Titel3rd Workshop of the European Focused Ion Beam Network
Seiten34-35
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019
VeranstaltungEuropean FIB Network - Dreden, Dresden, Deutschland
Dauer: 12 Jun 201914 Jun 2019
http://www.eu-f-n.org

Konferenz

KonferenzEuropean FIB Network
KurztitelEUFN 2019
LandDeutschland
OrtDresden
Zeitraum12/06/1914/06/19
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Frank, P., Hummel, S., Sattelkow, J., Winkler, R., Andany, S., Fantner, G., ... Schwalb, C. (2019). In-Situ Correlative AFM/SEM/FIB analysis of FIB-treated samples. in 3rd Workshop of the European Focused Ion Beam Network (S. 34-35)