Improving Classification Performance of RFID Gates using Hidden Markov Models

Michael Goller, Markus Brandner

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

    Originalspracheenglisch
    TitelIEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
    Herausgeber (Verlag).
    PublikationsstatusAngenommen/In Druck - 2011
    VeranstaltungIEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference - Binjiang, Hangzhou, China
    Dauer: 10 Mai 201112 Mai 2011

    Konferenz

    KonferenzIEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
    Land/GebietChina
    OrtBinjiang, Hangzhou
    Zeitraum10/05/1112/05/11

    Fields of Expertise

    • Information, Communication & Computing

    Treatment code (Nähere Zuordnung)

    • Theoretical
    • Experimental

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