Impact of the Native SiO2 Surface Layer on the Electron Transfer at amorphous Si Electrodes

Heinz Bülter, Michael Sternad, Martin Wilkening, Gunther Wittstock

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalsprachedeutsch
TitelECS Transactions; 68
Herausgeber (Verlag).
Seiten1-11
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungECS/ISE Joint International Meeting - Paris, Frankreich
Dauer: 31 Aug 19975 Sep 1997

Konferenz

KonferenzECS/ISE Joint International Meeting
Land/GebietFrankreich
OrtParis
Zeitraum31/08/975/09/97

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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