Impact of Leakage Effects in Electrical Capacitance Tomography due to Short Electrode Length

Hubert Zangl, Markus Neumayer

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

    Originalspracheenglisch
    TitelWhat Where When Multi-dimensional Advances for Industrial Process Monitoring
    Herausgeber (Verlag).
    Seiten129-138
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009

    Dieses zitieren

    Zangl, H., & Neumayer, M. (2009). Impact of Leakage Effects in Electrical Capacitance Tomography due to Short Electrode Length. in What Where When Multi-dimensional Advances for Industrial Process Monitoring (S. 129-138). ..