Imaging atom probe characterization of STM tips

Alexander Fian, Manfred Leisch

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelEurophysics conference abstracts ; 24 C
ErscheinungsortParis
Herausgeber (Verlag)European Physical Society
Seiten155-155
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2000
VeranstaltungEuropean Conference on Surface Science - Madrid, Spanien
Dauer: 5 Sept. 20008 Sept. 2000

Konferenz

KonferenzEuropean Conference on Surface Science
Land/GebietSpanien
OrtMadrid
Zeitraum5/09/008/09/00

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Experimental

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