IC Pin Modeling and Mitigation of ESD-Induced Soft Failures

Giorgi Maghlakelidze, Li Shen, Harald Gossner, David Johannes Pommerenke, DongHyun Kim

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „IC Pin Modeling and Mitigation of ESD-Induced Soft Failures“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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