High resolution STEM EELS and EFTEM investigations on FIB samples with a monochromator microscope

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
Veranstaltung13th European Microscopy Congress - Antwerpen / Belgien
Dauer: 22 Aug 200427 Aug 2004

Konferenz

Konferenz13th European Microscopy Congress
OrtAntwerpen / Belgien
Zeitraum22/08/0427/08/04

Dies zitieren

Kothleitner, G. (2004). High resolution STEM EELS and EFTEM investigations on FIB samples with a monochromator microscope. Postersitzung präsentiert bei 13th European Microscopy Congress, Antwerpen / Belgien, .

High resolution STEM EELS and EFTEM investigations on FIB samples with a monochromator microscope. / Kothleitner, Gerald.

2004. Postersitzung präsentiert bei 13th European Microscopy Congress, Antwerpen / Belgien, .

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Kothleitner G. High resolution STEM EELS and EFTEM investigations on FIB samples with a monochromator microscope. 2004. Postersitzung präsentiert bei 13th European Microscopy Congress, Antwerpen / Belgien, .
Kothleitner, Gerald. / High resolution STEM EELS and EFTEM investigations on FIB samples with a monochromator microscope. Postersitzung präsentiert bei 13th European Microscopy Congress, Antwerpen / Belgien, .
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author = "Gerald Kothleitner",
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TY - CONF

T1 - High resolution STEM EELS and EFTEM investigations on FIB samples with a monochromator microscope

AU - Kothleitner, Gerald

PY - 2004

Y1 - 2004

M3 - Poster

ER -