High resolution STEM analysis of Sr and Yb in Al - 5wt.% Si alloys

Mihaela Albu, J. Li, P. Schumacher, Ferdinand Hofer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelInstrumentation and Methods; Materials Science
Herausgeber (Verlag).
Seiten672-673
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungMicroscopy Conference 2013: MC13 - Regensburg, Deutschland
Dauer: 25 Aug. 201330 Aug. 2013

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2013
KurztitelMC
Land/GebietDeutschland
OrtRegensburg
Zeitraum25/08/1330/08/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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