High resolution STEM analysis of Sr and Yb in Al - 5wt.% Si alloys

Mihaela Albu, J. Li, P. Schumacher, Ferdinand Hofer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelInstrumentation and Methods; Materials Science
Herausgeber (Verlag).
Seiten672-673
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungMicroscopy Conference 2013 - Regensburg, Deutschland
Dauer: 25 Aug 201330 Aug 2013

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2013
KurztitelMC
LandDeutschland
OrtRegensburg
Zeitraum25/08/1330/08/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Albu, M., Li, J., Schumacher, P., & Hofer, F. (2013). High resolution STEM analysis of Sr and Yb in Al - 5wt.% Si alloys. in Instrumentation and Methods; Materials Science (S. 672-673). ..