High-resolution EELS measurements for the mapping of direct bandgap

Gerald Kothleitner, Bernhard Schaffer

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Konferenzbeitrag › (Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalsprache	englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 6 Okt. 2009
Veranstaltung	ECS Meeting - Wien, Österreich Dauer: 4 Okt. 2009 → 9 Okt. 2009

Konferenz

Konferenz	ECS Meeting
Land/Gebiet	Österreich
Ort	Wien
Zeitraum	4/10/09 → 9/10/09

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Nanoanalysis using transmission electron microscopy
1/01/04 → …
Projekt: Arbeitsgebiet

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