High level fault injection for attack simulation in smart cards

Klaus Rothbart, Ulrich Neffe, Christian Steger, Reinhold Weiß, Edgar Rieger, Andreas Mühlberger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelProceedings / 13th Asian Test Symposium
ErscheinungsortLos Alamitos, Calif.
Herausgeber (Verlag).
Seiten118-121
ISBN (Print)0-7695-2235-1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
VeranstaltungAsian Test Symposium - Kenting, Taiwan
Dauer: 15 Nov 200417 Nov 2004

Konferenz

KonferenzAsian Test Symposium
LandTaiwan
OrtKenting
Zeitraum15/11/0417/11/04

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