High energy resolution EFTEM series in the low-loss regime

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 7 Mär 2007
VeranstaltungInternational Workshop on “New Trends in Electron Microscopy - Ringberg Castle, Tegernsee, Deutschland
Dauer: 7 Mär 20079 Mär 2007

Konferenz

KonferenzInternational Workshop on “New Trends in Electron Microscopy
LandDeutschland
OrtRingberg Castle, Tegernsee
Zeitraum7/03/079/03/07

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Hofer, F., Grogger, W., Schaffer, B., & Kothleitner, G. (2007). High energy resolution EFTEM series in the low-loss regime. International Workshop on “New Trends in Electron Microscopy, Ringberg Castle, Tegernsee, Deutschland.