Hardware Design and Measurement Results fo an Electrical Capacitance Tomography System

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

    Originalspracheenglisch
    TitelInternational Conference on Electronic Measurement and Instruments
    Herausgeber (Verlag).
    Seiten1-6
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003
    VeranstaltungInternational Conference on Electronic Measurement and Instruments - Taiyuan, China
    Dauer: 18 Aug. 200321 Aug. 2003

    Konferenz

    KonferenzInternational Conference on Electronic Measurement and Instruments
    Land/GebietChina
    OrtTaiyuan
    Zeitraum18/08/0321/08/03

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