Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalytik

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

Originalsprachedeutsch
Seiten (von - bis)307-320
FachzeitschriftGießerei-Praxis
Jahrgang10
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dies zitieren

Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalytik. / Schröttner, Hartmuth.

in: Gießerei-Praxis, Jahrgang 10, 2010, S. 307-320.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschung

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TY - JOUR

T1 - Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalytik

AU - Schröttner, Hartmuth

N1 - ISSN 0016-9781

PY - 2010

Y1 - 2010

M3 - Artikel

VL - 10

SP - 307

EP - 320

JO - Gießerei-Praxis

JF - Gießerei-Praxis

SN - 0016-9781

ER -