Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene

Timm Ostermann, Kurt Lamedschwandner, Bernd Deutschmann, Gunter Winkler

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalsprachedeutsch
Titel12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004
ErscheinungsortBerlin Offenbach
Herausgeber (Verlag)VDE Verlag GmbH
Seiten421-427
ISBN (Print)3-8007-2810-9
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004

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Ostermann, T., Lamedschwandner, K., Deutschmann, B., & Winkler, G. (2004). Gegenüberstellung der messtechnischen und normativen EMV-Anforderungen auf IC- und Geräteebene. in 12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit/EMV 2004 (S. 421-427). Berlin Offenbach: VDE Verlag GmbH.