Full characterization of localized surface plasmons on a silver nanodisc

Franz Schmidt, Harald Ditlbacher, Ulrich Hohenester, Ferdinand Hofer, Joachim R. Krenn

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 16 Sep 2012
VeranstaltungEuropean Microscopy Congress - Manchester
Dauer: 16 Sep 201221 Sep 2012

Konferenz

KonferenzEuropean Microscopy Congress
OrtManchester
Zeitraum16/09/1221/09/12

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Schmidt, F., Ditlbacher, H., Hohenester, U., Hofer, F., & Krenn, J. R. (2012). Full characterization of localized surface plasmons on a silver nanodisc. European Microscopy Congress, Manchester, .