FP7 DIAMOND: Design Error Diagnosis and Correction Success Stories

Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Robert Könighofer, Georg Hofferek, Alexander Finder, Görschwin Fey

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelIEEE European Test Symposium
Herausgeber (Verlag).
PublikationsstatusAngenommen/In Druck - 2013
VeranstaltungIEEE European Test Symposium - Avignon, Frankreich
Dauer: 27 Mai 201331 Mai 2013

Konferenz

KonferenzIEEE European Test Symposium
LandFrankreich
OrtAvignon
Zeitraum27/05/1331/05/13

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Experimental

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