Four-dimensional simultaneous EELS & EDX tomography of an Al-Si based alloy

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 7 Sep 2014
VeranstaltungInternational Microscopy Congress 2014 - Prag Tschechische Republik
Dauer: 7 Sep 201412 Sep 2014

Konferenz

KonferenzInternational Microscopy Congress 2014
OrtPrag Tschechische Republik
Zeitraum7/09/1412/09/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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