Focusing Elements and Design Considerations for a Scanning Helium Microscope (SHeM)

D. A. MacLaren, Bodil Holst, D Riley, W. Allison

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)249-255
FachzeitschriftSurface Science
Jahrgang10
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003

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