Focused Ion Beam vs Focused Electron Beam Deposition of Cobalt Silicide Nanostructures Using Single-Source Precursors: Implications for Nanoelectronic Gates, Interconnects, and Spintronics

Felix Jungwirth, Fabrizio Porrati, Daniel Knez, Masiar Sistani, Harald Plank, Michael Huth, Sven Barth*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

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