Focused ion beam processing of low melting polymers: new perspectives due to optimized patterning strategies

Roland Schmied, Angelina Orthacker, Boril Stefanov Chernev, Gregor Trimmel, Harald Plank

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelInstrumentation and Methods; Materials Science
Herausgeber (Verlag).
Seiten359-360
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungMicroscopy Conference 2013 - Regensburg, Deutschland
Dauer: 25 Aug 201330 Aug 2013

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2013
KurztitelMC
LandDeutschland
OrtRegensburg
Zeitraum25/08/1330/08/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Schmied, R., Orthacker, A., Chernev, B. S., Trimmel, G., & Plank, H. (2013). Focused ion beam processing of low melting polymers: new perspectives due to optimized patterning strategies. in Instrumentation and Methods; Materials Science (S. 359-360). ..