Focused Ion Beam Preparation for Transmission Electron Microscopy

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelMultinational Congress on Microscopy
Herausgeber (Verlag).
SeitenO-135-101-103
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungMultinational Congress on Microscopy - Eger, Ungarn
Dauer: 23 Aug 201528 Aug 2015

Konferenz

KonferenzMultinational Congress on Microscopy
LandUngarn
OrtEger
Zeitraum23/08/1528/08/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Dienstleder, M., Gspan, C., Kothleitner, G., & Hofer, F. (2015). Focused Ion Beam Preparation for Transmission Electron Microscopy. in Multinational Congress on Microscopy (S. O-135-101-103). ..