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Focused Electron Beam-Based 3D Nanoprinting for Scanning Probe Microscopy: A Review
Harald Plank*, Robert Winkler, Christian Schwalb, Johanna Hütner, Jason D. Fowlkes, Philip D. Rack, Michael Huth
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung