First-principles interpretation of attosecond time-resolved XUV absorption spectroscopy of laser excited Silicon

C. D. Pemmaraju, S. Sato, K. Yabana, Krupa Ramasesha, M. Schultze, Stephen R. Leone, David Prendergast

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Fingerprint

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