Field injection probes for field coupled electrostatic discharge sensitivity database of ICs

Zhen Li*, Jiang Xiao, Byongsu Seol, Jongsung Lee, David Pommerenke

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Abstract

An ESD (Electrostatic Discharge) sensitivity database gives a guidance in estimating if, for a given ESD scenario and IC location soft-error (e.g., resets) problems are likely to occur or not. This paper reports on the field probes used.

Originalspracheenglisch
TitelIEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC 2010 - Final Program
Seiten329-333
Seitenumfang5
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Dez 2010
Extern publiziertJa
Veranstaltung2010 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2010 - Fort Lauderdale, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 25 Jul 201030 Jul 2010

Publikationsreihe

NameIEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
ISSN (Print)1077-4076

Konferenz

Konferenz2010 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtFort Lauderdale
Zeitraum25/07/1030/07/10

ASJC Scopus subject areas

  • Physik der kondensierten Materie
  • Elektrotechnik und Elektronik

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