Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen

Alexander Fian, Manfred Leisch

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Originalsprachedeutsch
TitelVerhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
ErscheinungsortWeinheim
Herausgeber (Verlag)Physik-Verlag GmbH
Seiten928-928
Band5/1999
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1999
VeranstaltungFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik der Deutschen Physikalischen Gesellschaft - Münster, Deutschland
Dauer: 22 Mär 199926 Mär 1999

Konferenz

KonferenzFrühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
LandDeutschland
OrtMünster
Zeitraum22/03/9926/03/99

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Dieses zitieren

Fian, A., & Leisch, M. (1999). Feldionenmikroskopische Untersuchung von Oberflächenmodifikationen auf STM Spitzen. in Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (Band 5/1999, S. 928-928). Weinheim: Physik-Verlag GmbH.