Fault-based Test Case Generation for Component Connectors

Bernhard Aichernig, Farhad Arbab, Lacramioara Astefanoaei, Frank S. de Boer, Meng Sun, Jan Rutten

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelIEEE International Symposium on Theoretical Aspects of Software Engineering
Herausgeber (Verlag)IEEE Computer Society
Seiten147-154
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungIEEE International Symposium on Theoretical Aspects of Software Engineering - Tianjin, China
Dauer: 29 Jul 200931 Jul 2009

Konferenz

KonferenzIEEE International Symposium on Theoretical Aspects of Software Engineering
LandChina
OrtTianjin
Zeitraum29/07/0931/07/09

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Theoretical

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