Fast automated 3D EDXS Mapping

Julian Wagner; Stefan Mitsche; Ilse Letofsky-Papst; Hartmuth Schröttner; Christof Sommitsch

doi:10.3217/978-3-85125-062-6-039

Fast automated 3D EDXS Mapping

Julian Wagner, Stefan Mitsche, Ilse Letofsky-Papst, Hartmuth Schröttner, Christof Sommitsch

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	Instrumentation and Methodology
Erscheinungsort	Wien
Herausgeber (Verlag)	Facultas
Seiten	81-82
ISBN (Print)	978-3-85125-062-6
DOIs	https://doi.org/10.3217/978-3-85125-062-6-039
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009
Veranstaltung	Multinational Congress on Microscopy - Graz, Österreich Dauer: 30 Aug. 2009 → 4 Sept. 2009

Konferenz

Konferenz	Multinational Congress on Microscopy
Land/Gebiet	Österreich
Ort	Graz
Zeitraum	30/08/09 → 4/09/09

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Zugriff auf Dokument

10.3217/978-3-85125-062-6-039

Imaging of materials surfaces and nanostructuring
Wagner, J.
1/01/05 → …
Projekt: Arbeitsgebiet

Dieses zitieren

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TY - GEN

T1 - Fast automated 3D EDXS Mapping

AU - Wagner, Julian

AU - Mitsche, Stefan

AU - Letofsky-Papst, Ilse

AU - Schröttner, Hartmuth

AU - Sommitsch, Christof

PY - 2009

Y1 - 2009

U2 - 10.3217/978-3-85125-062-6-039

DO - 10.3217/978-3-85125-062-6-039

M3 - Conference paper

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EP - 82

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T2 - Multinational Congress on Microscopy

Y2 - 30 August 2009 through 4 September 2009

ER -

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Konferenz

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Zugriff auf Dokument

Projekte

Imaging of materials surfaces and nanostructuring

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