Exploring the resolution limits with a monochromated (S)TEM

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 25 Sept. 2005
Veranstaltung10th Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Material Science - Kasteel Vaalsbroek Niederlande
Dauer: 25 Sept. 200530 Sept. 2005

Konferenz

Konferenz10th Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Material Science
OrtKasteel Vaalsbroek Niederlande
Zeitraum25/09/0530/09/05

Dieses zitieren