Exploring the resolution limits with a monochromated (S)TEM

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 25 Sep 2005
Veranstaltung10th Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Material Science - Kasteel Vaalsbroek Niederlande
Dauer: 25 Sep 200530 Sep 2005

Konferenz

Konferenz10th Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Material Science
OrtKasteel Vaalsbroek Niederlande
Zeitraum25/09/0530/09/05

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